DB44_T 1905-2016 超高频射频识别RFID芯片测试方法

主要技术内容：超高频射频识别标签芯片和阅读器芯片的测试
起草单位：中山达华智能科技股份有限公司、电子科技大学、广州市标准化研究院、电子科技大学中山学院、中山职业技术学院、中山大学花都产业科技研究院、东莞市中电云华信息技术有限公司
起草人：文光俊、李建、蒋晖、赵文强、王耀、徐永键、徐广健、陆许明、罗国章、程文彬、冷小冰、闫胜利、万其明、王伟

中文标题：超高频射频识别(RFID)芯片测试方法
标准号：DB44/T1905-2016
发布日期：2016-09-29
实施日期：2016-12-29
制修订：制定
中国标准分类号：L80
国际标准分类号：35.040
技术归口：广东省无线射频（RFID）标准化技术委员会（GD/TC1）
批准发布部门：广东省质量技术监督局
行业分类：制造业
标准类别：方法标准

按地区分类：广东省
按国民经济行业分类：C 制造业

关键词：DB44/T,广东省无线射频（RFID）标准化技术委员会（GD/TC1）,制造业,射频,芯片,测试

文件名：DB44_T 1905-2016 超高频射频识别(RFID)芯片测试方法.pdf

2024-10-2 23:50 上传 DB44_T 1905-2016 超高频射频识别RFID芯片测试方法.pdf

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