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[江苏省] DB32_T 4378-2022 衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜 方块电阻的无损测试 四探针法

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1 黄金阳光 发表于 2024-10-1 21:58 | 查看全部 阅读模式
起草单位:江苏省特种设备安全监督检验研究院(国家石墨烯产品质量检验检测中心(江苏))、苏州晶格电子有限公司、河南煜合科技集团有限公司、江苏华永烯科技有限公司、江南大学、无锡华鑫检测技术有限公司、中国矿业大学、烯源科技无锡有限公司
起草人:杨永强、丁海龙、区炳显、谢一麟、陈武魁、刘禹、魏宁、呼志跃、王云超、王勤生、马龙、李璐、屈晓兰、陈辉、秦继恩

中文标题:衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜 方块电阻的无损测试 四探针法
标准号:DB32/T4378-2022
发布日期:2022-10-23
实施日期:2022-11-23
制修订:制定
中国标准分类号:B61
国际标准分类号:65.020.40

批准发布部门:江苏省市场监督管理局
行业分类:无
标准类别:无

按地区分类:江苏省
按国民经济行业分类:无

关键词:DB32/T,,无,衬底,探针,方块

文件名:DB32_T 4378-2022 衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜 方块电阻的无损测试 四探针法.pdf
2024-10-1 21:58 上传
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