T_CSTM 00003-2019 二维材料厚度测量 原子力显微镜法

标准编号：T/CSTM00003—2019
中文标题：二维材料厚度测量原子力显微镜法
英文标题：Thicknessmeasurementsoftwo-dimensionalmaterialsAtomicforcemicroscopy(AFM)
国际标准分类号：07.030
中国标准分类号：
国民经济分类：M745质检技术服务
发布日期：2019年01月03日
实施日期：2019年02月01日
起草人：卜天佳、任玲玲、姚雅萱、张梅、魏晓晓、尹宗杰、黎佩珊、仇登利、魏岳腾、董国材、张小敏、何丹农、张迎、陶兴付、李慧琴、吴琼、张晶晶。
起草单位：中国计量科学研究院、北京市理化分析测试中心、广州特种承压设备检测研究院、布鲁克（北京）科技有限公司、江南石墨烯研究院、纳米技术及应用国家工程研究中心、上海交通大学分析测试中心、中国计量大学。
范围：
主要技术内容：本标准规定了二维材料厚度测量原子力显微镜法的原理、仪器设备、样品前处理、测试方法、厚度计算方法、测量结果的不确定度评定及测试报告。本标准适用于可以与基底形成台阶的二维材料厚度测量。

关键词：中关村材料试验技术联盟,T/CSTM,质检技术服务,显微镜,厚度,原子

T_CSTM 00003-2019 二维材料厚度测量 原子力显微镜法.pdf

2024-9-29 22:48 上传 T_CSTM 00003-2019 二维材料厚度测量 原子力显微镜法.pdf

文件大小:

1.81 MB

下载次数:

60

高速下载