T_CIE 092-2020 自旋转移矩磁随机存储器测试方法

标准编号：T/CIE092—2020
中文标题：自旋转移矩磁随机存储器测试方法
英文标题：
国际标准分类号：35.220.01数据存储设备综合
中国标准分类号：
国民经济分类：I6550信息处理和存储支持服务
发布日期：2020年12月21日
实施日期：2021年01月25日
起草人：赵巍胜、彭守仲、曹凯华、王昭昊、聂天晓、史可文、王佑、邓尔雅、王戈飞、陈燕宁、付振、潘成、刘芳、卢辉
起草单位：北京航空航天大学、北京智芯微电子科技有限公司、北京芯可鉴科技有限公司、上海佑磁信息科技有限公司、致真存储（北京）科技有限公司
范围：
主要技术内容：本标准给出了自旋转移矩磁随机存储器（Spin-TransferTorqueMagneticRandomAccessMemory，STT-MRAM）的术语、测试原理、被测件、测试环境、测试设备、测试程序等。本标准适用于自旋转移矩磁随机存储器以及内嵌上述存储器的集成电路。

关键词：中国电子学会,T/CIE,信息处理和存储支持服务,存储器,测试,方法

T_CIE 092-2020 自旋转移矩磁随机存储器测试方法.pdf

2024-9-29 20:21 上传 T_CIE 092-2020 自旋转移矩磁随机存储器测试方法.pdf

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