T_CSTM 01003-2023 相变存储器电性能测试方法

标准编号：T/CSTM01003—2023
中文标题：相变存储器电性能测试方法
英文标题：Measurementmethodsforelectricalpropertiesofphasechangememory
国际标准分类号：31.200
中国标准分类号：L56
国民经济分类：C397电子器件制造
发布日期：2023年03月07日
实施日期：2023年06月07日
起草人：缪向水、何强、童浩、程晓敏、刘峻、李硕、任玲玲、李锟。
起草单位：华中科技大学、长江存储科技有限责任公司、中国计量科学研究院、中国电子技术标准化研究院。
范围：本文件规定了相变存储单元器件的电性能测试方法，分为器件性能测试和器件可靠性测试，器件性能测试包括电流-电压特性、存储窗口、置位时间、置位电压、复位时间、复位电压、功耗；器件可靠性测试包括耐久性和数据保持时间。本文件适用于相变存储单元器件（以下简称器件）。
主要技术内容：本文件规定了相变存储单元器件的电性能测试方法，分为器件性能测试和器件可靠性测试，器件性能测试包括电流-电压特性、存储窗口、置位时间、置位电压、复位时间、复位电压、功耗；器件可靠性测试包括耐久性和数据保持时间。本文件适用于相变存储单元器件（以下简称器件）。

关键词：中关村材料试验技术联盟,T/CSTM,电子器件制造,存储器,性能测试,方法

T_CSTM 01003-2023 相变存储器电性能测试方法.pdf

2024-9-29 14:15 上传 T_CSTM 01003-2023 相变存储器电性能测试方法.pdf

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