GBT 23413-2009 纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定.X射线衍射线宽化法

纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定.X射线衍射线宽化法
Determinationofcrystallitesizeandmicro-strainofnano-materials.X-raydiffractionlinebroadeningmethod

摘要:本标准规定了利用x射线衍射线宽化法来测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。本标准采用的计算方法是近似函数法。本标准适用于测定晶粒尺寸一般不大于100nm，微观应变一般不大于0.1%的纳米材料。

标准编号：GB/T23413-2009
标准类型：
发布单位：CN-GB
发布日期：2009年1月1日
强制性标准：否
实施日期：2009年1月1日
关键词：尺寸,晶体,纳米材料,X射线,X射线分析,DIMENSIONAL,DIMENSIONS,SIZE,SIZECONTENT,SIZES,CRYSTALS,NANOMATERIALS,X-RAYS,XRAYS,X-RAY,X-RAYANALYSIS

GB/T 23413-2009 纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定.X射线衍射线宽化法.pdf

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