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GB 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法体积电阻率测试方法

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admin 发表于 2024-9-26 14:47 | 查看全部阅读模式

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法体积电阻率测试方法
TestmethodsforpropertiesofstructureceramicusedinelectroniccomponentsTestmethodforvolumeresistivity

摘要:本标准适用于电子元器件结构陶瓷在室温至500℃范围体积电阻率的测定。

标准编号：GB5594.5-1985
标准类型：GB
发布单位：国家标准局
发布日期：1985年1月1日
强制性标准：否
实施日期：1986年1月1日
关键词：电阻率,陶瓷,测量,结构材料,体积,电子设备及元件,Ceramics,Measurement,Volume,Electronicequipmentandcomponents,Texturedmaterials,Electricalresistivity

GB 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法体积电阻率测试方法.pdf

2024-9-26 14:47 上传

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结构, 电阻率, 方法, 电子元器件, 体积

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