GBT 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分：总则

半导体器件机械和气候试验方法第1部分:总则
Semiconductordevices.Mechanicalandclimatictestmethods.Part1：General

摘要:本部分适用于半导体器件（分立器件和集成电路）并为GB/T4937系列的其他部分建立通用准则。当本部分与相应的详细规范有矛盾时，以详细规范为准。

标准编号：GB/T4937.1-2006
标准类型：
发布单位：CN-GB
发布日期：2006年1月1日
强制性标准：否
实施日期：2007年1月1日
关键词：半导体器件,半导体,机械试验,气候,试验,SEMICONDUCTORDEVICES,SEMICONDUCTORS,MECHANICALTESTING,MECHANICALTESTS,CLIMATE,EXAMINATION,TEST,TRIALS,TESTING,REFRACTORYPRODUCTS,DEPOSIT,CRUDEOILS,TESTS,bristles

GB/T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分:总则.pdf

2024-9-26 14:29 上传 GBT 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分：总则.pdf

文件大小:

335.46 KB

下载次数:

60

附件售价:

1 下载券 [赞助会员免费下载]

本地下载 立即购买