半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST)
Semiconductordevices.Mechanicalandclimatictestmethods.Part4:Dampheat,steadystate,highlyacceleratedstresstest(HAST)
摘要:GB/T4937的本部分过电流强加速稳态湿热试验（HAST）方法，用于评价非气密封装半导体器件在潮湿的环境下的可靠性。
标准编号：GB/T4937.4-2012
标准类型：
发布单位：CN-GB
发布日期：2012年1月1日
强制性标准：否
实施日期：2013年1月1日
关键词：半导体器件,半导体,机械试验,气候,试验,环境试验,湿热试验,SEMICONDUCTORDEVICES,SEMICONDUCTORS,MECHANICALTESTING,MECHANICALTESTS,CLIMATE,EXAMINATION,TESTING,TESTS,TEST,TRIALS,REFRACTORYPRODUCTS,CRUDEOILS,DEPOSIT,bristles,ENVIRONMENTALTESTING,ENVIRONMENTALTESTS,DAMPHEATTESTS,DAMP-HEATTESTS
GB/T 4937.4-2012 半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST).pdf
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