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[电子元器件与信息技术] GBT 4937.12-2018 半导体器件机械和气候试验方法第12部分：扫频振动

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admin 发表于 2024-9-26 14:29 | 查看全部阅读模式

半导体器件机械和气候试验方法第12部分：扫频振动
Semiconductordevices—Mechanicalandclimatictestmethods—Part12:Vibration,variablefrequency

摘要:本部分的目的是测定在规定频率范围内，振动对器件的影响。本试验是破坏性试验，通常用于有空腔的器件。本试验与GB/T2423.10—2008基本一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。

标准编号：GB/T4937.12-2018
标准类型：GB
发布单位：国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
发布日期：2018年1月1日
强制性标准：否
实施日期：2019年1月1日
关键词：

GB/T 4937.12-2018 半导体器件机械和气候试验方法第12部分：扫频振动.pdf

2024-9-26 14:29 上传

GBT 4937.12-2018 半导体器件机械和气候试验方法第12部分：扫频振动.pdf

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振动, 气候, 半导体器件, 机械

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