GBT 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法

电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法杨氏弹性模量泊松比测试方法
Testmethodsforpropertiesofstructureceramicusedinelectroniccomponents--TestmethodforYoung'selasticmodulusandPoissonratio

摘要:本标准适用于室温下电子元器件结构陶瓷材料的杨氏弹性模量、切变模量和泊松比的测量。

标准编号：GB/T5594.2-1985
标准类型：CF
发布单位：CN-GB
发布日期：1985年1月1日
强制性标准：否
实施日期：1986年1月1日
关键词：电子设备及元件,测量,结构材料,结构陶瓷材料,陶瓷,弹性模量,泊松比,Ceramics,Measurement,Electronicequipmentandcomponents,Modulusofelasticity,Poissonratio,Texturedmaterials

GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法.pdf

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