GBT 17444-1998 红外焦平面阵列特性参数测试技术规范

红外焦平面阵列特性参数测试技术规范
Thetechnicalnormsformeasurementandtestofcharacteristicparametersofinfraredfocalplanearrays

摘要:本标准所指的焦平面，是敏感红外辐照（以下简称辐照）的光敏元阵列并带有读出电路的器件。本标准对焦平面特性参数及相关量进行了定义。本标准给出了焦平面主要特性参数的测试方法及测试条件。本标准适用于线列和面阵焦平面。

标准编号：GB/T17444-1998
标准类型：CJ
发布单位：CN-GB
发布日期：1998年1月1日
强制性标准：否
实施日期：1999年1月1日
关键词：标准化参数,焦平面阵列,测量,试验,规范,红外线,红外线辐射,trials,specification,infraredwaves,infra-red,test,examination,focalplanearrays,standardizedparameters,measurement,specifications,testing,measuring,tests,measurements,infraredradiation

GB/T 17444-1998 红外焦平面阵列特性参数测试技术规范.pdf

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