红外焦平面阵列参数测试方法
Measuringmethodsforparametersofinfraredfocalplanearrays
摘要:本标准对红外焦平面阵列特性参数及相关量进行了定义。本标准给出了红外焦平面阵列特性参数的测试方法及测试条件。本标准适用于线列和面阵红外焦平面阵列。
标准编号：GB/T17444-2013
标准类型：
发布单位：CN-GB
发布日期：2013年1月1日
强制性标准：否
实施日期：2014年1月1日
关键词：标准化参数,焦平面阵列,测量,试验,规范,红外线,红外线辐射,半导体器件,STANDARDIZEDPARAMETERS,MEASUREMENTS,MEASUREMENT,MEASURING,EXAMINATION,REFRACTORYPRODUCTS,TESTING,TESTS,CRUDEOILS,DEPOSIT,bristles,TEST,TRIALS,SPECIFICATIONS,SPECIFICATION,INFRA-RED,INFRAREDWAVES,INFRAREDRADIATION,SEMICONDUCTORDEVICES
GB/T 17444-2013 红外焦平面阵列参数测试方法.pdf
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