[电子元器件与信息技术] GBT 35003-2018 非易失性存储器耐久和数据保持试验方法

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admin 发表于 2024-9-26 13:18 | 查看全部阅读模式

非易失性存储器耐久和数据保持试验方法
Testmethodsforenduranceanddataretentionofnon-volatilememory

摘要:本标准规定了非易失性存储器耐久和数据保持试验的方法。本标准适用于电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪存储器(Flash)以及内嵌上述存储器的集成电路(以下简称器件)。

标准编号：GB/T35003-2018
标准类型：GB
发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
发布日期：2018年1月1日
强制性标准：否
实施日期：2018年1月1日
关键词：

GB/T 35003-2018 非易失性存储器耐久和数据保持试验方法.pdf

2024-9-26 13:18 上传

GBT 35003-2018 非易失性存储器耐久和数据保持试验方法.pdf

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