SJ 2215.8-1982 半导体光耦合器输出饱和压降的测试方法

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admin 发表于 2024-9-26 12:28 | 查看全部阅读模式

半导体光耦合器输出饱和压降的测试方法
Methodofmeasurementforoutputsaturationvoltageofsemiconductorphotocouplers(diodes)

摘要:本标准适用于光耦合器输出饱和压降民V(CE)(sai)的测试。

标准编号：SJ2215.8-1982
标准类型：
发布单位：CN-SJ
发布日期：1982年1月1日
强制性标准：是
实施日期：1983年1月1日
关键词：半导体器件,耦合器,光耦合器,压降,测试方法

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2024-9-26 12:28 上传

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半导体, 耦合器, 饱和, 输出, 测试

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