SJT 11210-1999 石英晶体元件参数的测量.第4部分：频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算

石英晶体元件参数的测量.第4部分:频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他参数的计算
Measurementofquartzcrystalunitparameters.Part4:MethodforthemeasurementoftheloadresonancefrequencyfL,loadresonanceresistanceRLandthecalculationofotherderivedvaluesofquartzcrystalunits,upto30MHz

摘要:本标准规定了频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率f|(L)和负载谐振电阻R|(L)的简单测量方法。从这两项测量可计算出由IEC122-1修改1中定义的负载谐振频率偏置△F|(L)，频率牵引范围△f|(L|(1)L|(2))和牵引灵敏度S。

标准编号：SJ/T11210-1999
标准类型：
发布单位：CN-SJ
发布日期：1999年1月1日
强制性标准：否
实施日期：1999年1月1日
关键词：石英晶体,电子元件,参数测量,负载谐振频率,负载谐振电阻

SJ/T 11210-1999 石英晶体元件参数的测量.第4部分:频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算.pdf

2024-9-26 10:56 上传 SJT 11210-1999 石英晶体元件参数的测量.第4部分：频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算.pdf

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