SJT 11212-1999 石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性DLD的测量

石英晶体元件参数的测量第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量
MeasurementofquartzcrystalunitparametersPart6Measurementofdriveleveldependence(DLD)

摘要:本标准适用于石英晶体元件激励电平相关性(DLD)的测量。本标准规定两种试验方法。方法A，以SJ/Z9154．1-1987的π型网络为基础，适用于该标准所覆盖的整个频率范围。方法B，是振荡器法，适用于固定条件下大批量基频石英晶体元件的测量。

标准编号：SJ/T11212-1999
标准类型：
发布单位：CN-SJ
发布日期：1999年1月1日
强制性标准：否
实施日期：1999年1月1日
关键词：石英晶体,电子元件,参数测量,激励电平

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