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    QJ 1908-1990 半导体器件验收开盖检查方法

    25 0
    admin 发表于 2024-9-25 10:56 | 查看全部 阅读模式
    半导体器件验收开盖检查方法
    摘要:

    标准编号：QJ1908-1990
    标准类型：
    发布单位：中华人民共和国航空航天工业部
    发布日期：1990年1月1日
    强制性标准：是
    实施日期：1990年1月1日
    关键词：航天,半导体器件,验收,开盖,检查方法

    QJ 1908-1990 半导体器件验收开盖检查方法.pdf
    2024-9-25 10:56 上传
    文件大小:
    69.02 KB
    下载次数:
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    验收, 检查, 方法, 半导体器件
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