QJ 2689-1994 电子元器件中多余物的X射线照相检验方法

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电子元器件中多余物的X射线照相检验方法
摘要:

标准编号：QJ2689-1994
标准类型：
发布单位：CN-QJ
发布日期：1994年1月1日
强制性标准：是
实施日期：1994年1月1日
关键词：电子元器件,多余物,X射线照相,检验方法

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2024-9-25 10:26 上传

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射线, 电子元器件, 照相

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