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021 发表于 2024-9-22 国家标准
YST 27-1992 晶片表面上微粒沾污测量和计数的方法
059 发表于 2024-9-22 归档区
GBT 43894.1-2024 半导体晶片近边缘几何形态评价第1部分：高度径向二阶导数法（ZDD）
039 发表于 2024-9-22 国家标准
GBT 26070-2010 化合物半导体抛光晶片亚表面损伤的反射差分谱测试方法
033 发表于 2024-9-22 国家标准
GBT 26066-2010 硅晶片上浅腐蚀坑检测的测试方法
017 发表于 2024-9-22 国家标准
GBT 16596-2019 确定晶片坐标系规范
012 发表于 2024-9-22 国家标准
GBT 16596-1996 确定晶片坐标系规范
010 发表于 2024-9-22 归档区
GBT 16595-2019 晶片通用网格规范
011 发表于 2024-9-22 国家标准
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012 发表于 2024-9-22 归档区
GBT 15713-1995 锗单晶片
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GBT 13387-2009 硅及其他电子材料晶片参考面长度测量方法
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GBT 6616-2023 半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试非接触涡流法
059 发表于 2024-9-23 国家标准
GBT 5238-2009 锗单晶和锗单晶片
09 发表于 2024-9-23 国家标准
SJT 31092-1994 晶片数控切割划片机完好要求和检查评定方法
013 发表于 2024-9-26 归档区
SJT 31091-1994 晶片内圆切片机完好要求和检查评定方法
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SJT 31065-1994 24型晶片数控抛光机完好要求和检查评定方法
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SJ 20520-1995 碲镉汞薄膜用碲锌镉晶片规范
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SJ 20438-1994 红外探测器用碲锡铅晶片测试方法
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SJ 20437-1994 红外探测器用碲锡铅晶片规范
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